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        CPS納米粒度分析儀

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        CPS納米粒度分析儀

        CPS納米粒度分析儀是一臺穩定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質里分離開。顆粒在的沉降穩定過程是由于液體介質中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統方法,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數法等方法比較,該方法有非常高的分辨率。

         

        CPS納米粒度分析儀,有別于傳統方法,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案

        這種原理有以下幾點優勢:

        分辨率高:

        同激光散射和顆粒計數法等方法比較,該方法有非常高的分辨率。對于只有 1%的顆粒差異分布的時候,該方法測定的結果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身,而不是分布顆粒的混合圖。

         

        靈敏度高:

        低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。

         

        重復性高:

        樣品結果在95%的典型置信度下,連續重復分析峰的重復性小 于+/-1% 或更好。

         

        快速、高精度數模(A/D)轉換:

        可用信號分辨率(即軟件操作的對象)決定于數模轉換的過程。CPS系統使用的數模  轉換  可以實現在每秒31次取樣時保持20位以上的精  度,幾百萬分之一的誤差。

         

        CPS高精度納米粒度儀的技術優勢

        CPS納米粒度分析儀?分辨率很高,它有效地結合了高速離心沉降(最高24000轉/分)和激光法的優點,使得整個儀器能夠達到極高的分辨率,優良的靈敏度和重復性.

        1. 同激光散射和顆粒計數法比較,該方法有非常高的分辨率,能夠輕松鑒別雜質顆粒,污染顆?;蛘咄鈦眍w粒。半峰寬為峰值粒度 1%,也就是說對于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個粒度峰,該儀器都可以有效地檢測并區分開來。儀器的分辨率如此高,得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響,測量最終得到的是真實、可靠的顆粒分布。
        1. 極高的靈敏度, 低于10-8 g 活性樣品可以得到,最少可以分析小于毫克乃至微克級的樣品。
        1. 高度可重復性的樣品結果; 連續重復分析峰的重復性小于±1% 或更好。
        1. 連續的離心操作;在分析連續樣品的時候,不需要儀器停止來清洗,需要極少的人工。
        1. 和傳統沉降法比較,更快的分析時間。速度的優勢是基于更快的圓盤轉速以及更快的儀器檢測器響應。采用多階速度,分析速度可以小于通常情況下的1/20。
        關鍵詞:
        納米粒度
        差速離心沉淀
        外泌體病毒顆粒
        顆粒精細區分
        納米微球
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